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Il bismuto ha sostituito il substrato ottico del wafer di Garnet Epitaxial Films SGGG del ferro

Certificazione
La Cina ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd. Certificazioni
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Il bismuto ha sostituito il substrato ottico del wafer di Garnet Epitaxial Films SGGG del ferro

Il bismuto ha sostituito il substrato ottico del wafer di Garnet Epitaxial Films SGGG del ferro
Il bismuto ha sostituito il substrato ottico del wafer di Garnet Epitaxial Films SGGG del ferro Il bismuto ha sostituito il substrato ottico del wafer di Garnet Epitaxial Films SGGG del ferro Il bismuto ha sostituito il substrato ottico del wafer di Garnet Epitaxial Films SGGG del ferro

Grande immagine :  Il bismuto ha sostituito il substrato ottico del wafer di Garnet Epitaxial Films SGGG del ferro

Dettagli:
Luogo di origine: La CINA
Marca: Crystro
Certificazione: SGS
Numero di modello: CRSGGG-6
Termini di pagamento e spedizione:
Quantità di ordine minimo: 1 pezzo
Prezzo: Negotiable
Imballaggi particolari: Scatola pulita trasparente
Tempi di consegna: 3-4 settimane
Termini di pagamento: T/T, Western Union, MoneyGram
Capacità di alimentazione: 100 pc alla settimana
Descrizione di prodotto dettagliata
Nome di produzione: Granato sostituito del gallio del gadolinio Parametro di Lattic: a=12.497Å
metodo di crescita: Czochralski Densità: 7.09g/cm3
Durezza di Mohs: 7,5 Punto di fusione: 1730℃
Indice di rifrazione: 1,954 a 1064nm Polacco: ssp o dsp
Evidenziare:

Wafer epitassiale dei film SGGG

,

Substrato del wafer di SGGG

,

Substrato ottico di SGGG


 

 

 

Wafer di SGGG per ferro Bismuto-sostituito Garnet Epitaxial Films

 

Introduzione:

 

I cristalli (SGGG) con calcio, magnesio e zirconio come sostituzione degli ioni sono stati usati come substrati per i film epitassiali bismuto-sostituiti del granato di ferro. I nostri a cristallo si sviluppano dal Czochralski method.SGGG e GGG sono usati come substrati per l'epitassia liquida. Le dimensioni e le forme speciali sono disponibili alla vostra richiesta.

 

 

Proprietà principali:

 

Nome GGG sostituito
Crystal Structure Cubico
Parametro della grata a=12.497Å
Metodo di crescita Czochralski
Densità 7.09g/cm3
Durezza di Mohs 7,5
Punto di fusione 1730℃
Indice di rifrazione 1,954 a 1064nm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

CRYSTRO offre:

 

Dimensione MAX Dia 4 pollici
Spessore 0.5mm/1mm
Lucidatura Lato singolo o doppio
Orientamento <111>±0.2°
Accuratezza di orientamento del bordo 2° (speciale in 1°)
Taglio La dimensione e l'orientamento speciali sono disponibili su richiesta
Ra ≤1nm
Pacchetto
100 borsa pulita, borsa pulita 1000

 

 

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Dettagli di contatto
ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd.

Persona di contatto: Zheng

Telefono: +86 18255496761

Fax: 86-551-63840588

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